Thickness- and orientation- dependences of Curie temperature in ferroelectric epitaxial Y doped HfO2 films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Thickness- and orientation- dependences of Curie temperature in ferroelectric epitaxial Y doped HfO2 films

著者

和文:	三村和仙, 清水荘雄, 勝矢良雄, 坂田修身, 舟窪浩.
英文:	Takanori Mimura, Takao Shimizu, Yoshio Katsuya, Osami Sakata, Hiroshi Funakubo.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Jpn. J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

Vol. 59 pp. SGGB04-1-6

出版年月

2020年2月19日

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI