Bipolar Transistor Test Structures for Extracting Minority Carrier Lifetime in IGBTs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Bipolar Transistor Test Structures for Extracting Minority Carrier Lifetime in IGBTs

著者

和文:	Kiyoshi Takeuchi, Munetoshi Fukui, Takuya Saraya, Kazuo Itou, Toshihiko Takakura, Shinichi Suzuki, Yohichiroh Numasawa, Naoyuki Shigyo, 角嶋邦之, 星井拓也, Kazuyoshi Furukawa, 渡辺正裕, 若林整, 筒井一生, 岩井洋, Atsushi Ogura, Wataru Saito, Shin-ichi Nishizawa, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura, 大橋弘通, Toshiro Hiramoto.
英文:	Kiyoshi Takeuchi, Munetoshi Fukui, Takuya Saraya, Kazuo Itou, Toshihiko Takakura, Shinichi Suzuki, Yohichiroh Numasawa, Naoyuki Shigyo, Kuniyuki Kakushima, Takuya Hoshii, Kazuyoshi Furukawa, Masahiro Watanabe, Hitoshi Wakabayashi, Kazuo Tsutsui, Hiroshi Iwai, Atsushi Ogura, Wataru Saito, Shin-ichi Nishizawa, Masanori Tsukuda, Ichiro Omura, Hiromichi Ohashi, Toshiro Hiramoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Trans. On Semiconductor Manufactureing

巻, 号, ページ

Vol. 33 No. 2 pp. 159-165

出版年月

2020年5月

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
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