Readout of Charge States in a Physically Defined PMOS Silicon Quantum Dot via RF Reflectometry

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Readout of Charge States in a Physically Defined PMOS Silicon Quantum Dot via RF Reflectometry

著者

和文:	SINAN BUGU, 西山伸平, K. Kato, Y. Liu, T. Mori, 小寺哲夫.
英文:	S. Bugu, S. Nishiyama, K. Kato, Y. Liu, T. Mori, T. Kodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
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巻, 号, ページ

出版年月

2020年9月

出版者

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会議名称

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英文:	2020 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2020)

開催地

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