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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Detection of tunneling events in physically defined silicon quantum dot using single-shot measurements improved by numerical treatments 
著者
和文: 溝口 来成, 田所 雅大, 小寺哲夫.  
英文: R. Mizokuchi, M. Tadokoro, T. Kodera.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Appl. Phys. Express 
巻, 号, ページ vol. 13       
出版年月 2020年11月23日 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.35848/1882-0786/abc923

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