4.2K Sensitivity-Tunable Radio Frequency Reflectometry of a Physically Defined p-channel Silicon Quantum Dot

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	4.2K Sensitivity-Tunable Radio Frequency Reflectometry of a Physically Defined p-channel Silicon Quantum Dot

著者

和文:	SINAN BUGU, 西山伸平, Kimihiko Kato, Yongxun Liu, Shigenori Murakami, Takahiro Mori, Thierry Ferrus, 小寺哲夫.
英文:	Sinan Bugu, Shimpei Nishiyama, Kimihiko Kato, Yongxun Liu, Shigenori Murakami, Takahiro Mori, Thierry Ferrus, Tetsuo Kodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Sci. Rep.

巻, 号, ページ

出版年月

2021年5月

出版者

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英文:

会議名称

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開催地

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