Effect of film microstructure on the polarization switching behavior in ferroelectric Y:HfO2 thin films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Effect of film microstructure on the polarization switching behavior in ferroelectric Y:HfO2 thin films

著者

和文:	Pratyush Buragohain, Adam Erickson, 三村和仙, 舟窪浩, Alexei Gruverman.
英文:	Pratyush Buragohain, Adam Erickson, Takanori Mimura, Hiroshi Funakubo, Alexei Gruverman.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Adv Functional Material

巻, 号, ページ

No. 2108876

出版年月

2021年11月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI