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論文・著書情報


タイトル
和文:高分子材料のフラクトグラフィ -破壊メカニズムと破面解析事例-（成澤郁夫監修） 
英文: 
著者
和文: 中嶋 健.  
英文: Ken Nakajima.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:第2章：高分子破面解析手法のポイント 第5節：AFMによる破面解析のポイント 
英文: 
巻, 号, ページ         63-79
出版年月 2011年6月20日 
出版者
和文:サイエンス&テクノロジー 
英文: 
会議名称
和文: 
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開催地
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