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タイトル
和文:Probe Microscopy Analysis of Defect-Driven Analog Memory Functions of TaOx for Neuromorphic Computing 
英文:Probe Microscopy Analysis of Defect-Driven Analog Memory Functions of TaOx for Neuromorphic Computing 
著者
和文: Atsushi Turumaki-Fukuchi, Takayoshi Katase, Hiromichi Ohta, Masashi Arita, Yasuo Takahashi.  
英文: Atsushi Turumaki-Fukuchi, Takayoshi Katase, Hiromichi Ohta, Masashi Arita, Yasuo Takahashi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2021年12月13日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:Materials Research Meeting 2021 
英文:Materials Research Meeting 2021 
開催地
和文: 
英文: 

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