FIB (Focused Ion Beam)-etched  Micro/Nanopattern on a curve surface

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	FIB (Focused Ion Beam)-etched Micro/Nanopattern on a curve surface

著者

和文:	松原竜也, 小林健人, Deok-Ho Kim, 金俊完.
英文:	Tatsuya Matsubara, Kento Kobayashi, Deok-Ho Kim, Joon-wan KIM.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2021年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 6th International Symposium on Biomedical Engineering

開催地

和文:
英文: