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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Physical Modeling of Off-State Breakdown in Power GaAs MESFETs 
著者
和文: 國弘 和明, Yuji Takahashi, Yasuo Ohno.  
英文: Kazuaki Kunihiro, Yuji Takahashi, Yasuo Ohno.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Solid State Electronics 
巻, 号, ページ Vol. 47    No. 4    pp. 621-631
出版年月 2003年4月 
出版者
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英文: 
会議名称
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開催地
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英文: 

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