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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Design considerations for buried p-layers to suppress substrate-trapping effects in GaAs MESFETs 
著者
和文: 國弘 和明, Yasuo Ohno.  
英文: Kazuaki Kunihiro, Yasuo Ohno.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Solid State Electronics 
巻, 号, ページ Vol. 45    No. 10    pp. 1763-1771
出版年月 2001年10月 
出版者
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会議名称
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開催地
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