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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Influence of External Circuits on Filamentary Current Flow During Impurity Breakdown in n-type GaAs 
著者
和文: 國弘 和明, Michael Gaa, Eckehard Schoell.  
英文: Kazuaki Kunihiro, Michael Gaa, Eckehard Schoell.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Electronics Letters 
巻, 号, ページ Vol. 33    No. 14    pp. 1261-1262
出版年月 1997年 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 

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