Thermal Property Estimation of Thin-Layered Structures by Means of Thermoreflectance Measurement and Network Identification by Deconvolution Algorithm

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Thermal Property Estimation of Thin-Layered Structures by Means of Thermoreflectance Measurement and Network Identification by Deconvolution Algorithm

著者

和文:	日隈大揮, THOMSEN SILVEIRA Joao Vitor, Kim Byunggi, Masahiro Nomura, 伏信一慶.
英文:	Daiki Higuma, Jo~ao Vitor Thomsen Silveira, Byunggi Kim, Masahiro Nomura, Kazuyoshi Fushinobu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Electronic Packaging

巻, 号, ページ

Vol. 146

出版年月

2024年8月17日

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: