Quantitative Thermophysical Property Characterization of Thin Layered Structures by Means of Combined Thermoreflectance-Nid Algorithm Technique

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Quantitative Thermophysical Property Characterization of Thin Layered Structures by Means of Combined Thermoreflectance-Nid Algorithm Technique

著者

和文:	Kim Byunggi, 日隈大揮, THOMSEN SILVEIRA Joao Vitor, 伏信一慶.
英文:	B. Kim, D. Higuma, J. Vitor Thomsen Silveira, K. Fushinobu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2024年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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英文:	InterPACK2024

開催地

和文:
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