"Kamale Tuokedaerhan,金田翼,マイマイティ マイマイティレャアティ,角嶋邦之,パールハットアヘメト,筒井一生,西山彰,杉井信之,名取研二,服部健雄,岩井洋","La2O3/n-Si 構造に対するPost Deposition Annealの電気特性への影響","第72回応用物理学会学術講演会",,,,,,2011,
"常石佳奈,来山大祐,幸田みゆき,角嶋邦之,パールハットアヘメト,筒井一生,西山彰,杉井信之,名取研二,服部健雄,岩井洋","W/Tm2O３/n-Si構造キャパシタの電気特性におけるTm2O３膜厚依存性","第72回応用物理学会学術講演会",,,,,,2011,
"野平博司,白石 貴義,高橋 健介,柏木 郁未,大島 千鶴,大見俊一郎,岩井洋,城森 慎司,中嶋 薫,鈴木 基史,木村 健二,服部 健雄","極薄希土類酸化膜/Si(100)界面構造（極薄ゲート絶縁膜・シリコン界面の評価技術・解析技術）",,"電子情報通信学会技術研究報告、SDM、シリコン材料・デバイス","電子情報通信学会","Vol. 103","No. 149","pp. 25-29",2003,June