"Zhengyu Xu,kouichi usami,Tomohiro Noguchi,Yukio Kawano,Teruyuki Ohashi,Takahisa Tanaka,Tsunaki Takahashi,Shunri Oda,Ken Uchida","Experimental Study on Deformation Potential (<i>D<sub>ac</sub></i>) in MOSFETs: Demonstration of Increased <i>D<sub>ac</sub></i> at MOS Interfaces and Its Impact on Electron Mobility",,"IEEE Journal of the Electron",,"Vol. PP",,"p. 1",2016,June
"高橋綱己,別府伸耕,陳君ろ,小田俊理,内田建","バルク／SOI FinFET の自己加熱およびアナログ特性の最適化","第61回応用物理学会春季学術講演会",,,,,,2014,Mar.
"新留彩,高橋綱己,小田俊理,内田建","グラフェン抵抗変化型メモリの3端子動作に関する研究","第61回応用物理学会春季学術講演会",,,,,,2014,Mar.
"新留彩,高橋綱己,小田俊理,内田建","グラフェン抵抗変化型メモリのSET/RESET条件に関する研究","第74回応用物理学会秋季学術講演会",,,,,,2013,Sept.
"黒澤裕也,角谷直哉,高橋綱己,大橋輝之,小田俊理,内田建","不純物のイオン化エネルギー増大によるナノワイヤトランジスタの電気的特性に与える影響","第74回応用物理学会秋季学術講演会",,,,,,2013,Sept.
"高橋綱己,小田俊理,内田建","熱特性モデル化による回路中のFinFET動作温度評価手法","第74回応用物理学会秋季学術講演会",,,,,,2013,Sept.