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研究業績一覧 (1件)
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国内会議発表 (査読なし・不明)
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中村嘉基,
細田修平,
Tuokedaerhan Kamale,
角嶋邦之,
片岡好則,
西山彰,
若林整,
杉井信之,
筒井一生,
名取研二,
岩井洋.
W2Cゲート電極とLa-silicateゲート絶縁膜を用いたMOSキャパシタの信頼性評価,
第74回応用物理学会秋季学術講演会,
2013.
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