国内会議発表 (査読なし・不明)

• 長谷川淳一, 野口宗隆, 中田修平, 須藤建瑠, 岩崎孝之, 小寺哲夫, 古橋壮之, 西村正, 波多野睦子. DLTS法による窒化後酸化SiC-MOSFETの界面準位評価, 第75回応用物理学会秋季学術講演会, Sept. 2014.
• 雷 一鳴, 宗清修, 角嶋邦之, 川那子高暢, 片岡好則, 西山彰, 杉井信之, 若林整, 筒井一生, 名取研二, 岩井洋, 古橋 壮之, 三浦 成久, 山川 聡. ATR-FTIR法を用いた熱処理によるLa2O3/SiC界面反応の解析, 第61回応用物理学会春季学術講演会, 2014.

[ BibTeX 形式で保存 ]    [ 論文・著書をCSV形式で保存 ]    [ 特許をCSV形式で保存 ]