@article{CTT100874628,
  author = {M. Nishizawa and T. Hoshii and H. Wakabayashi and K. Tsutsui and Yoshiaki Daigo and Ichiro Mizushima and T. Yoda and K. Kakushima},
  title = {Minority carrier lifetime extraction methodology based on parallel pn diodes with a field plate},
  journal = {Japanese Journal of Applied Physics},
  year = 2022,
}

@inproceedings{CTT100875829,
  author = {小森 勇太 and 星井 拓也 and 宮野 清孝 and 津久井 雅之 and 水島 一郎 and 依田 孝 and 角嶋 邦之 and 若林 整 and 筒井 一生},
  title = {InAlN/AlN/GaN構造中2DEGにおける移動度のキャリア濃度依存性},
  booktitle = {},
  year = 2021,
}

@inproceedings{CTT100875832,
  author = {小森 勇太 and 木村 安希 and 星井 拓也 and 宮野 清孝 and 津久井 雅之 and 水島 一郎 and 依田 孝 and 角嶋 邦之 and 若林 整 and 筒井 一生},
  title = {InAlN/AlN/GaN構造におけるキャリア散乱要因のAlN層厚依存性},
  booktitle = {},
  year = 2021,
}

@inproceedings{CTT100880831,
  author = {富澤 巧 and 川上 賢人 and 櫻井 照夫 and 草場 彰 and 岡本 直也 and 芳松 克則 and 醍醐 佳明 and 水島 一郎 and 依田 孝 and 寒川 義裕 and 柿本 浩一 and 白石 賢二},
  title = {縦型結晶成長装置におけるGaN MOVPEシミュレーション},
  booktitle = {},
  year = 2019,
}

@inproceedings{CTT100880842,
  author = {K. Sasaki and J. Song and T. Hoshii and H. Wakabayashi and K. Tsutsui and I. Mizushima and T. Yoda and K. Kakushima},
  title = {Minority Carrier Lifetime Measurement for SiC Epitaxial Layer},
  booktitle = {},
  year = 2018,
}