論文

• 堀口 剛司, 杉本 貴之, 冨永 真志, 漆畑 廣明, 藤田 英明, 赤木 泰文, 木ノ内 伸一, 大井 健史. 物理モデルに基づく並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析, 電気学会論文誌D, 電気学会, vol. 132, no. 5, pp. 566-573, May 2012.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 杉本 貴之, 冨永 真志, 漆畑 廣明, 藤田 英明, 赤木 泰文, 堀口 剛司, 木ノ内 伸一, 大井 健史. デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードの動作特性 ―キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析―, 半導体電力変換研究会, 電気学会研究会資料, no. SPC-11-017, pp. 97-102, Jan. 2011.
• 杉本貴之, 冨永真志, 漆畑廣明, 藤田英明, 赤木泰文, 木ノ内伸一, 大井健史. デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析, 産業応用部門大会, 電気学会 産業応用部門大会, 電気学会, Vol. 1, pp. 375-376, Aug. 2010.

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