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中川健太郎 研究業績一覧 (1件)
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論文
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Ahmet Parhat,
中川健太郎,
Kuniyuki KAKUSHIMA,
Hiroshi Nohira,
KAZUO TSUTSUI,
Nobuyuki Sugii,
takeo hattori,
HIROSHI IWAI.
Electrical characteristics of MOSFETs with La2O3/Y2O3 gate stack,
Microelectronics Reliability,
Vol. 48,
pp. 1769–1771,
2008.
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